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Info zur Überschrift : Metrologie (Modulnr.: PHY-IPKM-26)

Hinweis :
Leistungspunkte:

8

Workload:

240 h

SWS:

240

Anzahl Semester:

2

Qualifikationsziele:

Kenntnisse in theoretischen und praktischen Grundlagen der Metrologie und Beherrschung von Anwendungen im Bereich der Messtechnik, dem Qualitätsmanagement, der Systematisierung und Planung von experimentellen Untersuchungen. Die Vertiefung von Grundlagenwissen wird in den Bereichen Sensorik, Optik, Quantenoptik und Quanteneffekten in der Metrologie erzielt.

Inhalte:

Thematische Schwerpunkte liegen im Bereich der Messtechnik, Sensorik, Abschätzung von Messunsicherheiten und Modellierung von Messprozessen. Diese werden verknüpft mit Fragestellungen zu Maßsystemen, Rückführbarkeit, Grenzen physikalischer Messverfahren und deren Anwendung im Bereich Optik und Quantenoptik. Weiterhin werden internationale Aspekte und Fachtermini der Metrologie diskutiert.

Lernformen:

Vorlesung, Übung

Prüfungsmodalitäten:

PL: Mündliche Modulabschlussprüfung SL: wöchentliche Übungsaufgaben

Literatur:

V. Kose, F. Melchert: Quantenmaße in der elektrischen Messtechnik, VCH 1991, J. Hoffmann: Handbuch der Messtechnik, Hanser Verlag 2004 Kohlrausch: Praktische Physik (1.Bd), 24. Auflage, Teubner E.O. Göbel, Präzisionsmesstechnik (Skript zur Vorlesung, 2006) Tutsch, R.: Fertigungsmesstechnik (Kapitel 1 in: Gevatter, Grünhaupt (Hrg.): Handbuch der Automatisierungstechnik, Springer-Verlag, 2005) P. Profos, T. Pfeifer (Hrsg.): Grundlagen der Meßtechnik. 5., überarb. Aufl., München [u.a.] : Oldenbourg, 1997, ISBN: 3-486-24148-6.

Modulverantwortlicher:

Lemmens, Peter, Prof. Dr. rer. nat. habil.

Einrichtungen Institut für Physik der Kondensierten Materie

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